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PILATUS4 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器

品牌：DECTRIS 产地：瑞士型号：PILATUS4 R CdTe

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产品详情

1、产品特点：

凭借高于95%的极高量子效率，及其高达155×162毫米的极大有效面积，PILATUS4 R CdTe探测器可对基于从铜（Cu）到銦（In）的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼（Mo）、银（Ag）和銦（In）辐射，PILATUS4 R CdTe的性能优于任何配有硅传感器的HPC探测器—甚至包括目前拥有最厚的硅传感器的PILATUS3。

PILATUS4凭借出色的计数率和五探测器背景噪音的特点，实现了跨越十个数量级的广泛动态范围，高达200Hz的内部帧速，进一步优化了计数率校准，从而确保高强度测量的高度准确性。此外，PILATUS4还具备四个能量区分阈值，为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。

2、核心优势
- 巨大且有效：有效成像面积高达155×162mm，量子效率超过95％
- 最大限度的高动态范围：通过零探测器背景噪音、卓越的计数率以及同步读/写技术，实现了最大限度的高动态范围。

- 多功能性：覆盖了从铜（Cu）到銦（In）高量子效率；四个能量区分阈值适用于多色光应用。

3、应用领域
     - 单晶衍射
     - 小角X射线散射
     - 光谱成像
     - 劳厄衍射

4、技术参数：

PILATUS4 R CdTe	1M	260K	260K-W
有效面积：宽×高 [mm²]	155.0 x 162.0	77.0× 79.5	155.0 x 38.3
像素阵列	1033 x 1080	513 × 530	1033× 255
像素大小 [μm²]	150 x 150
能量范围 [keV]	8 - 25 (8 - 100)^【1】
能量阈值数量	4
阈值范围 [keV]	4-30（4-80）^【1】
计数率 [ph/s/pixel]	5.0 x 10⁶
最大帧频 [Hz]	10	100	100
读出时间^【2】	连续读出
传感器材料	CdTe
传感器厚度[μm]	1000
点扩散函数	1 pixel（FWHM）
尺寸（WHD）[mm³]	235 x 237 x 372	114 x 133 x 242	192 x 92 x 277
重量 [kg]	15	4.7	5.8

【1】可选择校准来扩展能量范围

【2】两次曝光之间的有效死时间＜100ns（最大损失1count/pixel）